- Модель продукта SN74LVTH18646APMG4
- Бренд Texas Instruments
- RoHS Yes
- Описание IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
- Классификация Специальность Логика
Инвентаризация:2183
Технические детали
- Пакет/кейс 64-LQFP
- Тип монтажа Surface Mount
- Количество битов 18
- Тип логики ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
- Рабочая Температура -40°C ~ 85°C
- Напряжение питания 2.7V ~ 3.6V
- Пакет устройств поставщика 64-LQFP (10x10)